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麥克風圖案的問題,我們搜遍了碩博士論文和台灣出版的書籍,推薦費鴻芳寫的 讓發聲發生:改變世界從讓底層邊緣人發聲開始——第四世界平民大學五十年紀實 和鄭晃二的 走進弓道的世界都 可以從中找到所需的評價。

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中華大學 機械工程學系 許隆結、陳文欽所指導 温順翔的 應用遞迴式神經網路於高精密金屬遮罩微影製程智慧製造系統之研究 (2020),提出麥克風圖案關鍵因素是什麼,來自於微影製程、田口方法、變異數分析、倒傳遞類神經網路、遞歸神經網路、混和粒子群最佳化與基因演算法。

而第二篇論文國立臺灣海洋大學 電機工程學系 張忠誠所指導 邱昱翔的 水下鋯鈦酸鉛超音波發射接收元件特性之研究 (2017),提出因為有 鋯鈦酸鉛、半導體製程、超音波元件的重點而找出了 麥克風圖案的解答。

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讓發聲發生:改變世界從讓底層邊緣人發聲開始——第四世界平民大學五十年紀實

  • 作者:費鴻芳  
  • 譯者:楊淑秀
  • 出版社:星火文化
  • 出版日期:2022-03-01

麥克風圖案進入發燒排行的影片

雖然我開箱還沒發,
但是我覺得這影片對大家的幫助更大,
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應用遞迴式神經網路於高精密金屬遮罩微影製程智慧製造系統之研究

為了解決麥克風圖案的問題,作者温順翔 這樣論述:

有機發光二極體(Organic Light-Emitting Diode, OLED)螢幕能透過像素點獨立發光來呈現圖案,因此較液晶螢幕(Liquid-Crystal Display, LCD)螢幕的色彩更為鮮艷逼真,OLED螢幕的特色使其深受好評,從手機、平板乃至於電腦等裝置的螢幕皆能看到OLED螢幕被應用。而目前產業界對於OLED面板的生產技術,多採用熱蒸鍍法,將OLED材料加熱蒸發後,沉積於面板上,過程中透過預先放置的高精密金屬遮罩(Fine Metal Mask, FMM),使熱蒸鍍過程能夠將特定圖案轉移到面板上。因此FMM本身的品質好壞將直接影響OLED面板的尺寸精度。過去,在尋找

微影製程參數組合時,往往需仰賴經驗並透過嘗試各種參數組合實驗找出較佳的製程參數組合,為解決此一問題,本研究提出一套高精密金屬遮罩微影製程智慧製造系統。由於田口實驗設計所得之最佳解屬於離散型最佳解,未必能同時滿足製程穩定與產品品質兩大目標。因此本研究將透過類神經網路與混和粒子群最佳化及基因演算法,系統化地找出最佳製程參數,節省尋找製程參數組合的實驗量與時間。本研究結果整合製程控制系統、監控系統、資料庫系統,並根據田口實驗及ANOVA分析結果找出高精密金屬遮罩微影製程的顯著因子為曝光能量與顯影溫度,將顯著因子設為變數,並固定其餘控制因子後,為同時使光阻開孔長度與光阻開孔寬度兩項製程結果的變異達到最

小,使用本研究所設計開發的智慧最佳化系統進行最佳化運算,得出結果為顯影溫度攝氏31.10度、曝光能量85.97mJ/cm2。

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為了解決麥克風圖案的問題,作者鄭晃二 這樣論述:

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  • 作者:鄭晃二
  • 出版社:五南
  • 出版日期:2021-02-10

水下鋯鈦酸鉛超音波發射接收元件特性之研究

為了解決麥克風圖案的問題,作者邱昱翔 這樣論述:

本論文使用半導體製程技術製作適用於水下環境之超音波感測元件,主要是利用壓電材料鋯鈦酸鉛的機電轉換特性,在水面下進行超音波的發射及接收。自製元件的主要結構有下電極、壓電層、上電極、防水層,藉由調整元件壓電層表面積來改變發射訊號強度,及利用改變元件陣列數量、調整壓電層之薄膜厚度及提升元件良率來提高聲波的接收強度。本論文製作之超音波發射元件由1*64個單一元素組成,元件中各個元素間由並聯的方式組成陣列,對改變發射元件之壓電層表面積進行分析,分別比較單個元素之壓電層面積為1mm^2及單個元素之壓電層面積為0.75mm^2之元件,發射端元件之壓電層總表面積為64mm^2及48mm^2,超音波接收元件比

較陣列數包括2880(48*60)個元素及3360個(48*70)元素組成並聯陣列。完成自製超音波發接收元件後,對自製元件進行水中發射、接收訊號強度量測、聲場量測、元件靈敏度量測等水下環境量測,電性量測的部分包含共振及反共振頻率的量測、介電常數量測、等校電路之量測、機電耦合係數量測及電滯曲線量測等。本論文分別改變超音波接收元件之鋯鈦酸鉛(Lead zirconate titanate,PZT)薄膜厚度及元件陣列數量,來對超音波接收陣列之特性進行分析,隨著接收端元件壓電層PZT薄膜厚度增加到2000nm時,可得到較高的介電值、及元件靈敏度,發射、接收訊號強度的表現在自製發射元件發射且由自製感測元

件接收,在10MHz頻段時能接收到最強的訊號強度1.2V。在元件陣列數改變下分析得到,陣列數2880元件之共振頻率為64.97MHz,當陣列數提升至3360時量測元件之共振頻率為48.636MHz,隨著陣列數提升所量測到元件共振及反共振頻率有下降之趨勢,但改變元件陣列數對介電值的影響並不顯著。

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