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高分子薄膜之形貌對表面雙疏性與導電度之影響

為了解決VIN number check fre的問題，作者牟隽月 這樣論述：

摘　　要本論文之內容分為高分子薄膜形貌對表面雙疏性和導電度之影響兩個部分。在表面雙疏性部分是以旋轉塗布法在矽晶片及不銹鋼板上製備雙疏性薄膜，以掃描探針顯微鏡（SPM）對薄膜表面形貌進行觀測，再量測薄膜接觸角而判定其雙疏性質。SPM結果顯示於矽晶片上製備之環氧薄膜厚度約為10奈米，其雙疏薄膜之表面形貌所呈現之次微米結構係保持雙疏性的關鍵。於不銹鋼板上製備之雙疏薄膜厚度約為100奈米，隨著薄膜厚度增加覆蓋不銹鋼片表面原本所具有的層狀粗糙結構仍然保持其光澤度、重複性及雙疏性質。於此兩種基材上均呈現添加極少量的氟矽烷（F-silane）使薄膜出現相當高的雙疏性質。而且隨著TEOS/F-silane含

量體積比提高，使雙疏薄膜的硬度增加。在表面導電度之影響部分是以附微胞聚合法（AP）在雲母片上製備聚吡咯薄膜（Polypyrrole, PPy），之後以SPM對薄膜表面形貌進行觀測，再以飛安計對薄膜之橫向導電性進行量測。SPM量測的結果顯示，PPy/SDS 和PPy/CTAB製備之薄膜厚度約為3奈米，表面形貌呈現為緻密連接的PPy顆粒與小節點。隨著PPy單體濃度的增加薄膜呈現出雙層結構，厚度及粗糙度增加形成連接的導電通路。飛安計對橫向導電性量測結果顯示，以兩線探針法所測得之導電度PPy/SDS 相較PPy/CTAB為佳。PPy薄膜吸收環境濕度形成水膜貢獻較高的導電度，與電擊距離及單體濃度關係均呈

現出具有線性的相關性。