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圓形防震墊的問題，我們搜遍了碩博士論文和台灣出版的書籍，推薦小栗富士雄、小栗達男寫的 標準機械設計圖表便覽 [最新增訂五版] 可以從中找到所需的評價。
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國立臺灣大學 土木工程學研究所 鍾立來、楊卓諺所指導 賴煜仁的 應用凸面導軌於偏心滾動隔震系統之研究 （2019），提出圓形防震墊關鍵因素是什麼，來自於隔震系統、非線性、滾動、偏心、摩擦。
而第二篇論文輔仁大學 物理學系碩士班 張連璧所指導 陳翰的 光電式麥克森干涉儀之研製 （2013），提出因為有 麥克森干涉儀、光敏電晶體、干涉術、相干長度的重點而找出了 圓形防震墊的解答。
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標準機械設計圖表便覽 [最新增訂五版]
為了解決圓形防震墊 的問題，作者小栗富士雄、小栗達男 這樣論述：
業界、學界一致推崇，暢銷數十年經典，機械設計必備！《標準機械設計圖表便覽》2012最新增訂五版，正式發行！ 《標準機械設計圖表便覽》自 1942 年出版以來，迄今已經過多次大幅度的改版，本次為第五次增訂。增訂五版秉持本書自初版以來一貫的出版宗旨進行修訂： ■廣泛蒐集 data book 的資料 ■提供計算好的圖表資料，替讀者節省寶貴時間 ■對於現行規格的揭露加以整理安排 ■成為實務機械設計者可以活用的工具書 為因應台灣機械相關從業人員的實際需求，在增訂五版中，新增機械安全事項、Ｃ形扣環、油壓止動裝置、保溫材標準施工厚度、螺紋結合式延性鑄鐵製管接頭等項目。同時也針對日本厚生
勞□省公布的「機械總括性安全基準的相關方針」，加入相關的安全事項內容，以降低機械操作時的風險。 在此增訂版中，特請國立臺灣大學機械工程學系名譽教授劉鼎嶽博士，以及國立臺灣大學機械工程學系副教授蔡曜陽博士重新審定內容，務求讓本書臻於完善並符合國人所用。 作者簡介 小栗富士雄 ．曾任日本東京石川島造船所（現為石川島播磨重工業）生產機械設計部長、產業機械設計部長、製鐵機械設計部長、理事、顧問等多項職務。 ．日本名古屋高等工業學校（現為名古屋工大）機械科畢業 小栗達男 ．現任小栗技術士事務所所長 ．取得機械類及綜合技術監督類之技術士執照 ．曾任職於日本石川島播磨重工業 ．日本明治
大學工學部機械工業科畢業 審訂者簡介 劉鼎嶽博士 （總審訂） ．國立臺灣大學名譽教授 ．曾任國立臺灣大學工學院機械工程學系教授，長達 46 年 ．日本東洋大學工學博士 ．臺北帝國大學工學部機械科畢業 蔡曜陽博士 （審訂） ．現任國立臺灣大學工學院機械工程學系副教授 ．日本東京大學工學博士 ．國立臺灣大學機械工程學系碩士
應用凸面導軌於偏心滾動隔震系統之研究
為了解決圓形防震墊 的問題，作者賴煜仁 這樣論述：
在世界各地，為了減低地震對建築物造成的損害，結構隔震系統已被廣泛的應用在土木工程領域。傳統隔震器如摩擦單擺支承具有線性回復力，在本文中稱之為線性隔震系統。當線性隔震系統遇到同樣具有低頻特性之近斷層地震，可能產生共振效應並導致隔震系統失效。因此，本研究提出一具有非線性回復力之改良型隔震系統。此系統考慮隔震標的物以梢接並偏心於圓形隔震器上，消能裝置為摩擦墊片，此外，在圓形隔震器下方有凸面導軌。首先藉由運動方程式推導建立數學模型，再以參數敏感度分析與自由振動掌握系統之非線性特性。接著，以調控遠域與近斷層地震之PGA來驗證此系統在設備隔震的可行性，藉由模擬分析結果可得此系統在近斷層地震作用之下，相較
於線性系統能有效降低加速度反應。而不論在遠域或近斷層地震作用下，其位移反應皆比未含凸面導軌之系統小。在結構隔震應用方面，考慮遠域與近斷層地震作用之下，利用上部結構勁度、質量與摩擦阻尼係數之變異性來探討其性能之變化並驗證本研究提出之改良型隔震系統之可行性。此外，由分析結果可得，相較於未含凸面導軌之系統，應用凸面導軌能在保有良好隔震效果情況下有效降低垂直向之隔震器尺寸，進而增加實務應用上之可行性。
光電式麥克森干涉儀之研製
為了解決圓形防震墊 的問題，作者陳翰 這樣論述：
利用市售的光電子及電子元件設計感測、波形轉換及計數電路，成功地完成架構簡單、穩定且具有教學功能的光電式麥克生干涉儀。我們對三種市售的光敏感應元件—光敏電阻 (CdS)、光敏二極體和光敏電晶體—的反應速率做了詳細地測量，由於光敏電晶體的光電流是光敏二極體的500倍以上。因此選擇光電流和反應速度都足以符合實驗要求的光敏電晶體做為光偵測器。以具有吸震減壓的記憶枕材質所製作的轉動桿轉動螺旋測微器可以進一步降低因震動所造成的計數誤差。用自行研製的干涉儀測量氦氖雷射632.8 nm紅光波長、氬離子雷射488 nm藍光波長及自行架設的Nd:YVO4固態雷射1064.3 nm波長，實驗誤差皆小於千分之一，精
準度比一般機械式測量方式足足提高了2~3個數量級。從示波器上的波形變化可以計算出干涉條紋的可見度(visibility)。測量鈉燈589.3 nm的黃光波長需要7 mW以上的黃光功率。目前欠缺有效的聚光方式，有待進一步的努力以完成波長、可見度以及相干長度的測量。