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國立成功大學 電機工程學系 黃尊禧所指導 李柏翰的 具有可切換式新型變容器LC壓控振盪器之2.4GHz次取樣鎖相迴路 （2021），提出PFD Type關鍵因素是什麼，來自於次取樣鎖相迴路、電感電容壓控振盪器、IMOS-based可變電容。
而第二篇論文國立陽明交通大學 電子研究所 陳巍仁所指導 簡煒值的 一個無參考時脈且具有背景自我校正技術之相位雜訊量測電路 （2021），提出因為有 相位雜訊量測電路、三角積分調變器、時間至數位轉換器、延遲線式頻率鑑別器、自我校正技術的重點而找出了 PFD Type的解答。
具有可切換式新型變容器LC壓控振盪器之2.4GHz次取樣鎖相迴路
為了解決PFD Type 的問題，作者李柏翰 這樣論述：
本論文提出一個應用於2.4 GHz ISM band的鎖相迴路設計，內含兩個部份:第一部份為鎖相迴路的其中一個子電路壓控振盪器設計；第二部份為完整的鎖相迴路電路設計，將子電路全部整合起來，以電路的操作電壓均為1.8伏特下去做設計。在第一顆壓控振盪器的部份採用新型的變容器來當作可變電容，並且搭配開關使整體的電容變化增加，所以電容整體的變化可以從0.82 pF到1.66 pF，在量測的部份整體的頻率可調範圍為2.59 GHz到2.15 GHz (18.6%)，比較和模擬時的2.792 GHz到2.2 GHz (23.7%)。相位雜訊在最好的部份可以到-121.56 dBc/Hz和模擬時的最好相位
雜訊是差不多的，整體的功耗在量測時為6.89 mW。 第二顆鎖相迴路採用次取樣鎖相迴路設計，包含了兩個迴路：一個為主迴路(core loop)和另一個為頻率鎖住迴路(FLL, frequency locked loop)，其中主要迴路採用了次取樣的技術，在採用次取樣的技術有兩大優點:第一優點為相位偵測器和充電泵的雜訊不會隨著除頻器的N上升而雜訊跟著提升N^2倍；第二優點為當頻率鎖上時此時不會提供除頻器的雜訊。本次的參考訊號為37.5 MHz，在直流操作電壓上均為1.8伏特而整體的功耗為8.14 mW，輸出功率為-2.11 dBm，相位雜訊在1 MHz的偏移處為-88.78 dBc/Hz；在1
0 MHz的偏移處的相位雜訊為-120.8 dBc/Hz。
一個無參考時脈且具有背景自我校正技術之相位雜訊量測電路
為了解決PFD Type 的問題，作者簡煒值 這樣論述：
隨著製程的微縮，系統的操作速率與資料吞吐量相較於以往越來越高，意味著位元時間也越來越短，因此系統對時脈抖動的要求將日趨嚴苛。有鑑於此，一個內建於晶片的相位雜訊量測電路在未來勢必是不可或缺的。本論文提出一個無需參考時脈且具有背景自我校正技術的相位雜訊量測電路，利用高解析度時間至數位轉換器將待測訊號的週期抖動量化成數位碼，經由快速傅立葉轉換後，待測訊號的相位雜訊可以被得知。晶片採用台積電28奈米CMOS製程，核心面積為450 μm x 453 μm，總功率消耗為15.83 mW。量測結果顯示系統的相位雜訊靈敏度於偏置頻率1 MHz處為-118 dBc/Hz；為了測試系統的線性度及準確度，以單音相
位調變訊號作為待測訊號，量測誤差最大值僅-0.8 dB；在寬頻相位雜訊的測試中，將系統的量測結果與頻譜分析儀比較，在積分頻寬為100 kHz至2 MHz之間，方均根抖動值之誤差最大值為-7.91%。相較於其他作品，本論文提出的系統擁有最高的時間解析度。