走在汽車革命的路上論文書籍站
淡江大學 機械與機電工程學系博士班 劉承揚所指導 顏子評的 數位相移條紋投影量測系統之設計與實現 （2017），提出m1.6 pitch關鍵因素是什麼，來自於三維曲面量測、數位結構光、相位移技術。
數位相移條紋投影量測系統之設計與實現
為了解決m1.6 pitch 的問題，作者顏子評 這樣論述：
本研究建立完整的數位相移條紋投影量測系統來進行物體的三維曲面量測，在演算技術部分，本研究使用多步相位移技術、三種波形條紋、品質導引路徑相位展開技術及參考平面扣除法等。硬體部分，本研究設計了兩套系統，第一套稱為多角度三維複雜曲面量測系統，第二套稱為微米級形貌量測系統。多角度三維複雜曲面量測系統使用DLP投影機投射條紋結構光影像，再藉由CCD相機擷取變形的條紋結構光影像，並利用電控轉盤來控制CCD相機的量測角度，以觀察多步相位移在不同量測角度對物體三維曲面量測的影響。微米級形貌量測系統整合DLP投影機、光學鏡組、立體顯微鏡及CCD相機將條紋結構光縮小並用以量測微米級三維形貌。由實驗結果可知，在量
測三維複雜曲面時，七步相位移在量測角度20°可得最佳量測結果，量測直徑50 mm滾珠螺桿之真圓度為0.05mm。在量測特定形狀時，餘弦波條紋對於直徑1 cm內凹半圓形待測物的量測誤差最小為1.27%，方形波條紋對於寬度3 cm長方形待測物的量測誤差最小為5.02%，三角波條紋對於邊長1 cm正三角形待測物的量測誤差最小為10.18%。在量測微米尺寸之形貌時，量測光纖解析度可達3 μm，與共軛焦顯微鏡量測結果比較，本量測系統精度高、架構簡單且操作容易。本系統可應用於生產線上之三維形貌檢測，對於自動化光學檢測領域有相當之助益。