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國立彰化師範大學 機電工程學系 王可文所指導 鄭兆佑的 自動化光學檢測應用在平面微致動元件的測定 (2012),提出mit v8規格關鍵因素是什麼,來自於自動化光學檢測、微致動元件、適應性影像強化。

接下來讓我們看這些論文和書籍都說些什麼吧:

除了mit v8規格,大家也想知道這些:

自動化光學檢測應用在平面微致動元件的測定

為了解決mit v8規格的問題,作者鄭兆佑 這樣論述:

本文開發了一種自動光學檢測(AOI)技術以測量微致動器平面運動幅度的特徵,並對微致動器的振動模態進行定量分析。該技術包含多階段的影像前處理演算方法、影像對比度增強步驟和Canny邊緣檢測方法。為了評估這種不同步驟最佳的組合方式,本研究探討可能的方法組合,並利用微靜電旋轉致動器為樣品來進行方法的測試,此致動器以進行第一振動模態下的低對比度的光學顯微照片進行測試。測試結果發現此技術經由影像前處理優化調整的影像處理,可以快速利用影像前處理方法成功處理對低對比度的顯微影像。該多階段影像演算法成功地提供了定量的訊息,對於以確定的振動幅度和模式的測試執行致動器元件的形狀與空間可達到的分辨率估可達0.46

μm /像素。