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國立臺灣科技大學 機械工程系 鍾俊輝所指導 陳彥均的 使用脫蠟澆注法製作具3D結構之高分子微流道 (2013),提出r15缺點關鍵因素是什麼,來自於脫蠟澆注、3D立體微結構、高分子微流道。

而第二篇論文國立中正大學 機械工程學系暨研究所 林榮信、陳政雄所指導 蔡汯嶧的 磁阻抗效應非接觸式應變計之研究 (2012),提出因為有 應變計、磁阻抗效應、非晶態磁性材料、考畢子諧振電路的重點而找出了 r15缺點的解答。

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能……等   ● 5G 標準化選項   - 性能因素   - 裝置實現的複雜度   - 訊號設計的簡潔性   - 對現有標準的影響程度……等   ● 簡單介紹 R17 版本中 5G 將要進一步增強的方向

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使用脫蠟澆注法製作具3D結構之高分子微流道

為了解決r15缺點的問題,作者陳彥均 這樣論述:

本研究使用脫蠟澆注法製作具3D結構之高分子微流道,同時搭配射蠟成形與微銑削方式完成,以改善目前高分子微結構製程不易製作立體微結構之缺點。高分子脫蠟製程是以低熔點材料如蠟做為犧牲材,將蠟加工成所需幾何微結構之蠟模後,再將高分子液體澆注於放有蠟模之模具內待其固化,最後加溫至犧牲材熔點即可將犧牲材取出,並完成高分子材料微結構之製作,此製程只須澆注一次即可完成成品,無需如積層製造反覆操作,或是將高分子材料分層製作再堆疊黏合而製成成品。然而,犧牲材熔點不可超過高分子材料的玻璃轉換溫度(Tg點),避免高分子材料在加熱脫蠟過程中變形,且高分子固化溫度不宜過高,以防止在成形前破壞蠟模幾何形狀。成品脫蠟後需注

意是否有殘蠟的現象,未脫蠟完全的工件在後續製程與尺寸精度上會造成影響。本實驗以白蠟為犧牲材,成功做出環氧樹脂立體微結構與擴散型聚二甲基矽氧烷(PDMS)微混合器,藉由產品之尺寸幾何、粗糙度、深度值與表面形貌的量測,證實射蠟與翻模步驟在製程中的尺寸穩定性,流場測試也驗證以高分子脫蠟法製作微混合器之可行性。此製程可做出真實3D之微結構,有別於以往2D與2.5D的加工工法,並克服了一般3D微結構在製程上的限制,大幅縮短製程時間與提升成品精確度,適用於實驗室的研究,以及工業界的大量生產。

磁阻抗效應非接觸式應變計之研究

為了解決r15缺點的問題,作者蔡汯嶧 這樣論述:

傳統量測系統使用的電阻式應變計,大都採用黏貼於材料或機台表面,為接觸式量測,然而量測靈敏度較低,需要外加高倍率訊號放大電路,在環境惡劣之場合使用,較容易受到干擾,雜訊容忍度較低。磁阻抗效應傳感器技術,採用非接觸式應變量測原理,具有量測靈敏度較高之優點。磁阻抗效應傳感器在以往的應用上,使用螺旋繞線線圈搭配外部的激磁訊號源,再利用頻率偵錯或相位偵測,在這樣的架構下的量測電路缺點有,線圈體積較為龐大,需要穩定之外接訊號源,頻譜轉換需要較為昂貴之量測儀器等,有鑑於此,本研究提出新型磁阻抗效應非接觸式應變感測器。本文研究之磁阻抗效應非接觸式應變感測器,材料選用非晶態軟磁材料Metglas 2826MB

,訊號處理電路使用考畢子諧振(Colpitts oscillator)電路,並結合平面線圈(planar spiral coil),對非晶態薄膜進行激磁,在非晶態薄膜表面產生渦電流(eddy current)效應,此效應會使得非晶態薄膜,反饋阻抗變化給平面線圈;當非晶態薄膜受外力產生變形時,會使得量測電路與非晶態材料互感的導磁率及導電率產生改變,平面線圈阻抗隨之產生變化,其諧振訊號振幅值產生改變,經由均方根值電路(True-RMS circuit)輸出應變量對應的類比電壓值,並與傳統應變計做一比較。另外,本研究針對旋轉軸應變計部分,亦完成旋轉軸型式巨磁阻抗(GMI)應變量測電路之雛型設計,在材

料上採用CoFeSiB非晶態微細線(micro wire),並改變平面線圈構型,採用兩個圓型中空平面線圈耦合方式,進行應變量測與驗證。經由實驗結果顯示,本研究開發的非接觸式應變感測器,在阻抗分析上,100Hz~30MHz的掃頻範圍下,平面線圈圈數越多,在施加相同應力下,量測的阻抗變化越大,矩型平面線圈圈數在16匝,線圈面積為16.3 mm,線圈激磁訊號為24.5MHz時,非晶態薄膜尺寸20mm×7mm×28μm,其量測靈敏度為7.24 mV/με;而旋轉型巨磁阻抗應變感測器,在CoFeSiB微細線長度為8mm,線徑為30μm,耦合線圈激磁訊號為1.5MHz時,在初步完成的靜態測試下,其量測靈敏

度可達到11.7 mV/με。在直流偏磁實驗上,施加直流偏磁場平行於施力方向,直流偏磁場低於0.08mT,量測靈敏度不會受到此直流偏磁場之影響,且直流偏磁場在0.04mT時,量測靈敏度會提高到10.0 mV/με。本研究所開發的「磁阻抗效應非接觸式應變感測器」,改善了以往使用螺旋繞線線圈體積較為龐大之問題,在量測電路上,也無需外部激磁之訊號產生器,與昂貴的量測儀器,減少實際使用時需要之儀器設備,更重要的是本研究電路架構簡單,平面線圈在製造上容易且價格便宜,平面線圈特性均質性高,並且量測靈敏度高,在其功能性上相比,較以前使用之電路架構更貼合實際應用時之需求。