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結合井測高解析電法之現地應用與評估

為了解決台鈴工業股份有限公司平鎮廠的問題，作者董皓安 這樣論述：

地電阻影像法(Electrical Resistivity Tomography)能提供快速的地層掃描且是非屬於破壞型的檢測方式，一般普遍使用單純地表施測的方式進行探測，但單純地表施測之解析度會隨著深度增加而快速的下降。為了增加深部解析度，可以利用鑽孔結合孔內電極進行施測，依施測方法的不同大致上可以分成單孔(SHERT)、孔對孔(CHERT)、地對孔(BSERT)三種方法，然而孔內施測方法存在一些潛在副作用，跨孔與地對孔由於一些序列趨於對稱的靈敏度分佈會導致鏡像效應，單孔完全對稱的靈敏度分佈使其更不具指向性。為了解決孔內施測潛在問題並進一步提高深部解析度，本研究於一模場進行測試，在BSERT

與CHERT方面以兩種不同序列進行聯合反演探討實際應用於現地時抑制鏡像效應之效果，CHERT並輔以Extended model修正邊界條件之問題並探討實際應用於現地時抑制鏡像效應之效果，最後進一步與地表資料結合得出一沒有鏡像效應且深部有一定解析度之剖面。單孔SHERT則探討搭配固定地面電極來達到指向性的效果，利用在地表不同方向設置的固定電極進行量測，結果顯示可達到一定程度的指向性，使BHERT的先行探測有助於地面二維ERT、BSERT及CHERT的地表測線方位的規劃。