Kp,Ki 調整的問題，透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列包括價格和評價等資訊懶人包

應用於開關式直流對直流轉換器之冪次乘法運算比例-積分-微分控制器

為了解決Kp,Ki 調整的問題，作者白崇聖 這樣論述：

比例-積分-微分(Proportional-Integral-Derivative Control, PID)控制器是工業控制中時常使用的回授控制器，舉凡大多數回授控制系統皆有使用，其透過由受控系統中取得之輸出數據和一個參考值比較，然後將此誤差透過比例控制增益Kp、積分控制增益Ki及微分控制增益Kd調節計算出輸出變量，讓受控系統的輸出數據可以到達並保持在給定的參考值。PID控制器可以依據過去的誤差和誤差出現的頻率來改變輸出變量，增加系統穩定性。傳統類比PID控制器使用運算放大器(Operational Amplifier)組成，雖其電路簡單且響應速度快，但缺點是其控制迴路補償不易調整且不易嵌

入至系統晶片中；而數位PID控制器則因其內部需要使用大量乘法運算導致其大多數皆以軟體或查表方式來實現。本論文提出一個運用冪次乘法運算技術的精簡可調式全數位PID控制器，電路的冪次運算可快速的計算出KP, KI及KD所調適出的輸出變量，同時也簡化了傳統PID需使用的二進位多位元乘法器。本控制器成功嵌入至開關式降壓型直流對直流轉換器，使其輸出電壓透過回授控制快速到達並穩定保持在參考值。本論文提出之冪次乘法運算PID控制器與開關式降壓型直流對直流轉換器在TSMC 180nm CMOS製程下的測試晶片中測量證明在輸入電壓為3.3V，輸出電壓為1.5V，工作頻率為1MHz時，本控制器可使其在100ms內

穩壓到1.5V，並在負載變化時能穩定保持在1.5V。

PID控制應用於熱探針法量測材料技術之研究

為了解決Kp,Ki 調整的問題，作者陳映霖 這樣論述：

本論文以熱傳導瞬態熱針法(transient thermal needle probe method)進行研究，控制系統主要以Arduino PWM 為基礎，搭配「PID 控制」應用於熱探針法的溫控技術。在實驗前，為配合 Arduino PID 溫控探針程式，本研究運用 MATLAB，設計出「圖形使用者介面」軟體 以進行快速與大量的實驗，具體作法為應用「Arduino PID Library」之內建參數(Kp 值、Ki 值、Kd 值)並透過不同之參數組合進行實驗，最終取得PID 控制器之最佳參數組合。探針溫度可以快速到達且誤差值都在原設定誤差範圍(±0.5℃)之內。 研磨材料以目前市

場主流超高硬度的鑽石、碳化矽、氧化鋁、立方氧化鋯之晶體作為本論文的研究材料，透過瞬態熱探針法的檢測，將其熱導率(時間／溫度比值)以曲線作為測量結果的比較與研究；本研究的測試條件為環境溫度10℃，檢測時間3 秒，探針溫度分別採 100℃與150℃。針對四種材料樣品進行交叉檢測比對，最終確立了探針溫度100℃檢測中發現鑽石的熱導率最佳、碳化矽次之、氧化鋁第三、立方氧化鋯最差，所有樣品的檢測結果均與理論值吻合。